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新EXR CMOS有多神?富士F505评测报告

来源:IT168网
2011年04月18日09:14
  

畸变及失光控制能力

F505EXR畸变及失光测试样张

畸变及失光控制能力

▲广角端F3.5畸变测试结果图示

畸变及失光控制能力

▲长焦端F5.3畸变测试结果图示

     富士F505具备15倍光学变焦,其广角端与长焦端均具备较出色的畸变控制能力,所存在的畸变几乎无法用肉眼识别。Imatest给出的数据是,广角端畸变比率为0.387,长焦端为0.249。再来看其失光方面的表现,F505EXR的广角端四角存在轻微的暗角,而在长焦端时的四角失光现象则更加的明显,广角端及长焦端的控制失光能力的表现均为最大光圈下表现最佳。  

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(责任编辑:刘伟)
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