发热测试也同样是本次测试的重点,当然它不是单独一项测试。在我们之前的游戏、视频测试中已经记录了整个测试环节开始到结束后的温度曲线。我们使用了红外温度探测器作为工具,开始前记录一次每一台手机的温度,测试环节结束后在记录一次温度。去点温度位于手机上半部分的中心点,这部分一般比较靠近处理器,可以得到比较真实的数据。
温度的控制是考验CPU的一个关键指标,如果CPU过热那么转化为热能越多,损耗也就越大。因此温度越高对于智能手机来说越不好。从图表当中可以看到Exynos平台和HTC One X在温度控制方面还可以,测试前后的温度都没有太大的差别,不过LG Optimus 4X的发热情况就有点突出了,尤其在视频测试环节的发热已经非常的明显。
实际上发热问题有很多因素影响,比如说CPU制作工艺。32nm技术比40nm技术制作的产品在相同条件下工号肯定会更低一些。同时也是CPU内部的设计构造和设计思路有关系。当然同一款CPU不同厂商的优化效果也不尽相同,这也造成了HTC与LG同样的Tegra 3处理器温度表现却不尽相同。
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